普及型连续变倍SZ系列
层厚度测量
面积法晶粒度
简易型BXFM
DP27
特点
研究型连续变倍SZX系列
截点法晶粒度
正立式BX53M
辅助聚焦装置
图谱对照
汽车行业质量控制
Presi制样设备
Prior程序控制电动载物台
颗粒分析
Linkam显微镜热台
自动聚焦装置
即时景深扩展(EFI)
偏光显微镜BX53P
OLS5100激光共焦显微镜
普及型GX53
DP74
PCB电镀分布能力
夹杂物最恶劣视场法
铸铁
DSX1000
奥林巴斯测量显微镜STM7
孔隙率
光源以及配件
DP22
焊接
清洁度分析系统CIX100
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