截点法晶粒度
DSX1000
孔隙率
普及型GX53
自动聚焦装置
即时景深扩展(EFI)
铸铁
简易型BXFM
夹杂物最恶劣视场法
焊接
Prior程序控制电动载物台
颗粒分析
特点
PCB电镀分布能力
面积法晶粒度
清洁度分析系统CIX100
正立式BX53M
DP22
偏光显微镜BX53P
DP74
DP27
Presi制样设备
研究型连续变倍SZX系列
OLS5100激光共焦显微镜
普及型连续变倍SZ系列
层厚度测量
汽车行业质量控制
Linkam显微镜热台
辅助聚焦装置
图谱对照
奥林巴斯测量显微镜STM7
光源以及配件
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